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JK-CGLS190型常規原位拉伸冷熱臺是一款研究樣品在變溫條件下進行應力應變測試的產品。

JK-SEM1900型原位冷熱臺是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）標準樣品臺上（無需改造電鏡內部），提供樣品原位變溫測試的電鏡附件。通過外接法蘭裝置實現對冷熱臺上的樣品進行控溫，穩定后溫控精度最高可達±0.1℃ 可實現樣品變溫測試的溫度范圍：-185~50℃ / -185~200℃，滿足原位高低溫材料相變微觀表征。SEM原位冷熱臺適合于各種樣品在掃描電子顯微鏡中進行高低溫結構研究，固定在現有樣品臺上

JK-600CH190P4D型外部調節探針冷熱臺

JK-600GCH2190P4微型探針冷熱臺產品特點： 結構緊湊，適用于各種變溫測試 最大溫度范圍-190~600℃（選型) 氣密腔室設計，可通保護氣體 多探針測試 上位機軟件控制 支持改動或定制

JK-600CH190P8型常規探針冷熱臺是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃（選型）或RT~1000℃（選型）范圍內精準控制，與其他電學儀表（如源表、萬用表等）搭配集成，進行變溫原位測試。

光學冷熱臺JK-GH600-190是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產品，可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。 產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃范圍內精準控制，與其他光學設備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進行變溫原位測試。